ECM离子迁移测试装置
可对离子迁移绝缘电阻值进行高精度、高信赖性、高效率的评价。
从当今的地球、市场环境来看,省能源、铅/无卤素、小型轻量、低价、高依赖等观点出来的,新素材、新实装方法的研究开发、评价方法的重估是必须的。
简介:离子迁移实验装置是一种依赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压(BIAS VOLTAGE),经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生(ION MIGRATION),并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是OPEN/SHORT试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。