电气绝缘材料电容率和介电常数测试装置 GDAT-C

电气绝缘材料电容率和介电常数测试装置1、《BH916介质损耗装置》(测试夹具)是测试系统的核心检测部件，它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。BH916介质损耗测试装置是本公司最新研制的更新换代产品，精密的加工设计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能，克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。

2、电气绝缘材料电容率和介电常数测试装置基于串联谐振原理的《GDAT高频Q表》是测试系统的二次仪表，其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的最高成就，随之带来了频率、电容双扫描GDAT的全新搜索功能。该表具有先进的人机界面，采用LCD液晶屏显示各测量因子：Q值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，频率精度高达1×10^-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)，把被测材料作为平板电容的介质，与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路，以获取最高的测试灵敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。

　　GDAT高频Q表的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测Q值甚至tanδ，无须关注量程和换算，彻底摒弃了传统Q表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况，它无疑是电工

材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)测量的理想工具。

3、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT)，实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化，tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理，因而提高了数据的精确度和测量的同一性，是人工读值和人工计算无法比拟的。

附表一,介质损耗测试系统主要性能参数一览表
BH916测试装置		GDAT高频Q表
平板电容极片	Φ50mm/Φ38mm可选	频率范围	20KHz-60MHz/200KHz-160MHz
间距可调范围	≥15mm	频率指示误差	3×10^-5±1个字
夹具插头间距	25mm±0.01mm	主电容调节范围	30-500/18-220pF
测微杆分辨率	0.001mm	主调电容误差	<1%或1pF
夹具损耗角正切值	≦4×10^-4 （1MHz)	Q测试范围	2～1023

附表二,LKI-1电感组典型测试数据

线圈号	测试频率	Q值	分布电容p	电感值
9	100KHz	98	9.4	25mH
8	400KHz	138	11.4	4.87mH
7	400KHz	202	16	0.99mH
6	1MHz	196	13	252μH
5	2MHz	198	8.7	49.8μH
4	4.5MHz	231	7	10μH
3	12MHz	193	6.9	2.49μH
2	12MHz	229	6.4	0.508μH
1	25MHz 50MHz	233 211	0.9	0.125μH