X射线荧光光谱仪 EX-3600

主要特点：

1) EX-3600 SDD 为您提供了最顶级的灵敏度和选择度。

2) SDD 探测器具有电子噪音低和高计数率的特点，与Si-PIN 探测器相比，SDD 探测器具有更高的能量分辨率并能更快的得到分析结果。

3) 二次靶模式为快速精确的定量分析提供了最大程度的灵敏度，甚至是像合金、塑料、地质这样复杂的基质中。完全自定义的二次靶使得检测结果能达到sub-ppm 级别。

4) EX-3600 SDD 能够分析液体、固体、泥浆、粉末、片状物体等。并且分析样品室能够满足不用形状和尺寸样品的需要。

5) 10个位置的自动进样器整体设计允许了最低限度的操作员干预、自动加载以及无人照管操作。

6) 该仪器检测快速，精准，使用方便。它具有坚固的计算机硬件和强大的分析软件能检测限低。

7) 多通道采集分辨率为改良过的探测器提供优质的峰与峰的比率。

技术参数：

测量能力
测量范围	Ｃ(６)－Ｆｍ（１００）
元素含量分析范围	ppm - 100% （在指定应用领域中）
X光管
X光源	Rh – 阳级标准
X-射线电源	50kV, 50W.
激发模式	二次靶激发模式
稳定性	室温条件下精确到0.1%
X光探测器
探测器	硅锂探测器（SDD），避免使用液态氮
分辨率	129 eV ± 5eV at 5.9 keV.
窗口	Be.
特性
自动成样	10 个位置
工作条件	空气/真空/氦气
滤光片	8款可选的软件
二次靶	Ge
电源	115 Vac/60 Hz 或230 Vac/50 Hz.
脉冲加工	多信道分析
光学	专利 WaG ® (广角几何)
尺寸（L×W×H，cm）	85×85×105(不含包装)，145×95×135（含包装）
重量	150Kg（净重），200Kg(总重)
样品室尺寸	直径28cm,高5cm
电脑	集成 pc.
软件
操作软件	nEXt，运行在Windows XP下的数据采集及分析软件包外加初级基本参数算法。
控制	样品激发，探测，样品操控，数据采集及处理的自动控制。
光谱处理	逃逸峰及背底的自动去除，自动重叠峰解析，图解式统计报告。
定量分析算法	考虑共存元素效应的多元素回归法（六种模式）。总计数，净计数拟合及数字滤波器法。
报告	用户可自定的数据报表及打印形式