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一、产品概述
该高精度涂镀层测厚仪FW518是我公司新研制的产品,具有精度高,性能稳定等特点,它能快速,无损伤的进行涂镀层的测试,既可以用于实验室,也可以用于现场测量。外置探头的设置,可以满足多种测量的需要.
该仪器可以广泛应用在制造业,金属加工业,化工业,商检等领域,是材料保护专业必备的仪器该仪器符合以下标准:
GB/T 4956-1985 JJG889-95
特点:
1 采用磁性测厚方法,可以测量磁性金属基体上非非磁性涂覆层的厚度。
2 有连续测量模式和单次测量模式两种。
2.测量原理
本仪器采用磁性测量的方法,可无损的测量磁性金属基体上非磁性涂覆层的厚度,当测头和涂覆层接触时,测头与磁性金属基体构成一个闭合磁路,由于涂覆层的存在,使磁路磁阻发生变化,通过测量其变化可以得出涂覆层的厚度.
3.屏幕显示说明
1. 测量数据 2.电量图标 3.测头类型
4.存储数据 5.测量方式 6. 测量单位
4.技术参数
量程:0~1250微米
工作原理:磁感应
分辨率:0.1微米
误差:±3%+1
小曲率半径凸:5mm
小面积直径:φ3mm
基体临界厚度:0.2mm
温度:-10~40℃
主机尺寸:120*69*30mm
探头直径:10mm
探头线长度:1m
5.仪器的使用方法
1. 准备好测试的工件
2. 将测头正确插入主机并确认插接牢固
3. 按右下键开机
4. 检查电池电量
5. 测量时,迅速将测头与测试面垂直接触并轻压至底,随着一声蜂鸣,屏幕显
示测量值,提起测头10公分以上可以进行下次测量.
6.无任何操作的情况,仪器2分钟左右可以自动关机,按右下键也可以手动关机.
提醒:如果在测量中测头放置不稳,显示一个明显的可疑值,可以按删除键删除
此数据.
6.校准方法
本系列仪器有三种测量中使用校准方法: 零点校准、二点校准、在喷沙表面上校准。二点校准法又分一试片法和二试片法。还有一种针对测头的基本校准。本仪器的校准方法是非常简单的。
6.1 零点校准
1.在基体上进行一次测量,屏幕显示<×.×μm>。
2.按“零点”键,屏显<0.0>。校准已完成,可以开始测量了。
3.重复上述1、2步骤可获得更为准确的零点,高测量精度。零点校准完成后就
可进行测量了。
6.2 二点校准
6.2.1 一试片法
1.先校零点(如上述6.1)。
2.在厚度大致等于预计的待测覆盖层厚度的标准片上进行一次测量,显示<×××μm>。
3.用“+或-”键修正读数,使其达到标准值。校准已完成,可以开始测量了。
注意:
1. 即使显示结果与标准片值相符,调整一下数据也是必不可少的,即先按一次+
再按一次-,使数据调整一下,这一点适用于所有校准方法。
2. 如想较准确地进行二点校准,可重复1、2过程,以提高校准的精度,减少偶
然误差。
6.2.2 二试片法
两个标准片厚度至少相差三倍。待测覆盖层厚度应该在两个校准值之间。这种方法尤其适用于高精度测量。
1.先校零值(如上述6.1)。
2.在较薄的标准片上进行一次测量,用 +或- 键修正读数,使其达到标准值。
3.紧接着在厚的一个样片上进行一次测量,用 +或- 键修正读数,使其达到标准值。校准已完成,可以开始测量了。
7、标准配置:
1 主机 2 探头 3标准片5片
4 铁基体 5 五号电池2节 6包装箱
7说明书 8 合格证保修卡
8、注意事项
1.对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
2.不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。
3.不应在试件的弯曲表面上测量。
4.通常由于仪器的每次读数并不完全相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。
5.测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物质。
6.严禁碰撞、重尘、潮湿、强磁场、油污等
- 询价产品:高精度涂镀层测厚仪 FW518
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