QUV荧光灯加速老化箱 HE-UV8

QUV荧光灯加速老化箱

QUV荧光灯加速老化箱设备用途

本试验设备模拟由紫外光、雨水、露水引起的破坏，通过将被测材料暴露于受控高温下光照与水份的交变循环中，对材料进行测试。它用紫外线灯管模拟阳光的辐射作用，用凝结水和喷水来模拟露水和雨水。只需几天或几个星期的时间，紫外线辐照设备就可以再现在室外需要几个月甚至几年的时间才会发生的损伤，其中包括褪色、颜色变化、失去光泽、粉化、破裂、裂纹、起皱、起泡、脆化、强度降低、氧化等，其测试结果可用于选择新材料，改善现有材料，或评估材料配方的改变。

QUV荧光灯加速老化箱符合标准

GB/T14552-2008、GB/T16422.3-1997 GB/T16585-96、GB/T16585-1996、GB/T16422.3-1997、：ASTM D4329、ISO 4892-3、ISO 11507、SAE J2020等

QUV荧光灯加速老化箱技术指标

规格型号	HE-UV8
工作室尺寸	400mm×1140 mm×380 mm （D×W×H）
外形尺寸	500mm×1300mm×1460 mm （D×W×H）
紫外灯管	UV-A(315～400nm)、UV-B(280～315nm) ，美国原装进口ATALS，灯的中心距离70mm
辐射强度	0.4W／m2～1W／m2以内可调（辐照计选购）
光照温度范围	50℃～70℃
冷凝温度范围	40℃～60℃
光照温度容差	≤±2℃
温度波动度	≤±2℃
温度解析度	0.1℃
黑板温度计	测量范围30～80℃，容差为±1℃
湿度范围	45%～90%R.H
控温方式	PID自整定控温方式
水槽要求	水深不大于25mm，并有供水自动控制器
标准试件尺寸	75×90mm，测试能力48片，试件离灯表面的最近平行面距离50mm，样品的最大厚度20mm

型号	HE-UV-8506A	HE-UV-8506B
简述	系仿真受阳光幅射之运输货柜环境，以试验产品在其中之耐变色程度。供制作产品材料时，调配化学原料之参考。	利用荧光紫外线灯模拟阳光照射之效果，被测试材料放置于一定温度下的光照中进行测试。用数天或数周的时间即可重现户外数月或数年出现的耐候效果。独有的免维护结构设计,使用更方便,更节能！
符合标准	ASTM-D1148标准	完全适用三星手机外壳紫外光老化测试,采用日本SANKYO生产的UV/B313灯管。
技术规格	内箱尺寸：长580×宽320×高350mm 材质： SUS304不锈钢测试距离：150～250mm 测试灯管：15W紫外线灯管二支	箱体材料：全不锈钢制作内箱尺寸：宽400×深320×高350（mm）外型尺寸：680×350×435（mm）使用光源：15WUV-B紫外线二支（日本SANKYO）温度范围：RT～60℃ 控温方式：PID 灯管间中心距离：150mm 样品架：可升降,即灯管与样品间距离可调功能选择：含连续和循环选择，选择循环功能时光照和黑暗时间可调定时装置：最大定时9999H；带停电保持功能，来电后继续工作。