薄膜电阻测试仪 FT-371
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仪表展览网>产品库>四点探针测试仪
价格: 面议
产品型号:FT-371
公司名称:宁波瑞柯微智能科技有限公司
地:浙江宁波
发布时间:2023-05-23
宁波瑞柯微智能科技有限公司
产品简介
薄膜电阻测试仪 为解决四探针法测试超高阻值材料方阻及电阻率,*大可以测试到1010Ω方阻值,是目前同行业中能测量到的*大方阻值,采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输**、使用方便;适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。薄膜电阻测试仪
产品详情


薄膜电阻测试仪 适用范围: 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率  导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜,抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等

 


薄膜电阻测试仪 功能概述: 本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;


薄膜电阻测试仪 采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.



双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。

薄膜电阻测试仪 技术资料:

1.方块电阻范围:1012×1010Ω/□

2.电阻率范围:1022×1011Ω-cm

3.测试电流范围:1mA ---1pA  

4.电流精度:±0.1%读数

5.电阻精度:108Ω以下≤5%  108Ω以上≤20%

6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率.

7.测试方式: 双电测量

8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗:<30W

9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)

10.选购功能: 选购1.pc软件; 2.方形探头; 3.直线形探头; 4.测试平台

11.测试探头:  探针间距选购:1mm2mm3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针

薄膜电阻测试仪 

 

 

 

 

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