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德国PHYNIX公司制造Surfix PFN内置探头两用统计型测厚仪 膜厚仪
碳化钨超耐磨测头,特快反应速度
同屏显示数据统计值
可存储前80个测值
可测铁基体上涂镀层和有色金属基体上涂层
量程1500μm,精度±1μm+1%读数
分辨率0.1μm.背景光
有红外可接PC及打印机
测量范围 |
0-1500µm,0 - 60mils
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误差
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±(1µm+1%读数)
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分辨率 |
0.1µm或小于读数的2%
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显示 |
背光,字母加数字,10mm高,4位数字显示
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基体最小面积 |
5mmX5mm
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基体最小曲率 |
凸面:1.5mm 凹面:50mm
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基体最小厚度 |
F型:0.5mm ,N型:50µm
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校准
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厂家校准,零校准,校准箔校准 |
数据统计(仅限统计型)
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读数个数(最多9999个),平均值,标准偏差,最大值和最小值
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数据存储(仅限统计型)
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最多80个测量数值,可单独调出
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数据值(仅限统计型)
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上下限可调,声音报警
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数据接口
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红外通讯,IrDA标准
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环境温度/表面温度
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0-50℃/60℃ (可选配150℃ )
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电源
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2节1.5伏七号碱性电池
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仪器尺寸
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107X50X25mm
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符合标准 |
DIN,ISO,ASTM,BS
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Surfix PFN膜厚仪操作语言 |
英语、德语或法语
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