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一、PCT老化试验箱用途:
主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿着胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。
二、PCT老化试验箱特点:
1、PCT高压加速试验箱du家采用全自动补充水位之功能,试验永不中断.
2、试验过程的温度、湿度、压力,是真正读取相关传感器的读值来显示的,而不是通过温湿度的饱和蒸汽压表计算出来的,真正体现了实际的试验参数。
3、干燥设计,采用电热干燥设计确保测试区(待测品)的干燥,确保稳定性。
4、精准的压力/温度对照显示,完全符合温湿度压力对照表要求。
5、LED数字型定时器,当锅内温度达到设定值后才开始计时以确保试验完全。
6、开始运转时流水器自动排出未饱和蒸气以达到zui佳蒸气质量。
三、PCT老化试验箱技术参数:
1.内箱尺寸: 300×450 mm(φ×D)圆形试验箱.
2.外箱尺寸: 700×900×650 mm(W×H×D)
3.内箱材质 : SUS 316#不锈钢板材质.
4.外箱材质: gao级烤漆。
5.温度范围 : 100℃~132℃. (饱和蒸气温度).
6.湿度范围 : 100%RH . (饱和蒸气湿度).
7.压力范围(表上压力) : 0.0Kg/cm2~2.0Kg/cm2控制点压力 (安全压力容量3.5Kg/cm2 ).
8.时间范围: 0 ~ 999 小时可调.
9.温度分布: ≤± 2.0℃.
10.升温时间:常温 ~ 132℃约40分钟内. (控制点温度).
11.加压时间:0.0Kg/cm2 ~ 2.0Kg/cm2 约45分钟内(控制点压力).
12.控制对象:微电脑+P.I.D.+S.S.R自动演算控制饱和蒸气温度.
13.控制方式:微电脑PID控制.
14.控制精度: ≤± 0.5℃.
15.解析精度:0.1℃.
以下是PCT老化试验箱图片
![](http://zt.yzimgs.com/ComFolder/638681/image/201610/201610081010717841.jpg)
东莞鹏锐试验设备有限公司专业生产PCT老化试验箱,高压加速老化试验箱,高压老化试验箱,高压加速老化试验机,高压寿命老化试验机等非标饱和高压试验箱。