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RQCM - 石英晶体微天平研究系统 INFICON英福康晶体天平研究系统 英福康INFICON晶体天平研究系统 苏州无锡上海南通成都英福康天平研究系统
RQCM 是一种非常先进的方法,用于测量薄膜在沉积、溶解或渗透过程中的性能。最多可以同时测量
3 颗晶体,质量分辨率小于 0.4 ng/cm2。所有数据都使用集成的基于 Windows
的软件实时加以记录并以图形显示。