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本系列仪器可对检测过程中是否存在干扰进行判断,具有错误信息提示以保证采样数据有效。可对采样数据利用程序进行分析处理,提高了测量精确度,并将测量值存储及自动打印输出。仪器还具有自诊断功能。
型号 |
GXF-221硅酸根 分析仪 |
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测量范围 |
0~200.0μg/SiO2 |
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基本误差 |
≤±2.0%FS |
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重复性误差 |
≤±0.5%FS |
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短期漂移 (60分钟) |
≤±0.5%FS |
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长期漂移 (24小时) |
≤±2.0%FS |
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化学方法 |
硅钼兰光度法 GB 12150—89 |
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电源/功率 |
220V/45W |
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外型尺寸 |
长×宽×高:430×415×160(mm) |
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重量 |
11kg |