X荧光光谱仪

X荧光光谱仪是世界第一台配置了硅漂移探测器（SDD）的手持X射线荧光光谱仪，能量分辨率高达140eV，计数率可达100kcps，大幅度地提高了分析速度和灵敏度。能在空气模式下，无需真空够或氦气冲洗即可测量铝合够或氦气冲洗即可测量铝合金中的AI，Mg，Si，钛合金中的AI以及钢材中的Si、S、P。为航空航天、核工业、军工、汽车等行业的材质无损分析的提供了理想工具。
同时S1TURBOSDLE也是当前全球艺术和环境保护科学家的首选仪器，在采矿业，土壤研究，玩具制造等领域都有特殊的应用。Bruker硬件和软件的超强功能及灵活性，加上无可匹敌的应用支持，科学家们得到的不仅是手持式仪器的便利，更重要的是能获得实验室级仪器的测量精度。
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