X射线荧光光谱仪重金属检测仪器

X射线荧光光谱仪

多道波长色散X荧光光谱仪（WDX）

　　 产地：美国

技术参数

主要特点

技术指标:
分析元素: Na、Mg、Al、Si、S、K、Ca、Fe
分析精度: 0.05%
分析含量范围：1PPM-99.99%
适合分析的领域：水泥、钢铁、陶瓷等.
适合分析的样品：粉末、固体、液体、熔融片.
体积：150*70*120cm
功率： 2千瓦

配置：

50千伏，6毫安X射线高压发生器.
多晶体分光系统.
自动水冷却系统.
自动恒温装置.
八通道探测系统
单样品腔.
外接计算机.
外接真空泵

仪器介绍

中美合作制造的波长色散X荧光分析仪.它采用美国生产的X射线高压发生器,X射线光管和多分
光晶体，体现了国际当代技术水平.
这一产品的出现，完善了我公司研制生产X荧光分析仪的品种，使我公司拥有了台式、立式、便
携式能量色散X荧光分析仪和波长色散X荧光分析仪.标志着我公司已成为国际重要生产厂家的一员.