日本得乐SM-1201测厚仪|TECLOCK得乐指针测厚规

日本TECLOCK得乐指针测厚仪，得乐测厚规

TECLOCK(日本得乐) SM-1201

得乐测厚规适用范围：

用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量。

TECLOCK得乐测厚仪原理：

在一定的面积与一定荷重下，测量出的物件厚度.指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。

得乐SM-1201测厚规技术参数：
 1. 指式方式：指针式
 2. 测量范围：0-10mm
 3. 最小读数：0.001mm
 4. 测量深度：120mm
 5. 体积大小：(W*D*H)87*23*105mm
 6. 重量：200g