菲尼克斯Surfix

菲尼克斯Surfix Pro S膜厚仪

Surfix Pro S 专业级测厚仪膜厚仪膜厚计
品牌：菲尼克斯型号：Surfix Pro S 产地:德国
1.强大数据处理功能.分500组存储1万个测值,特快反应速度
2.同屏显示各统计值，配合7种测头
3.可测铁基体和有色金属基体上的镀层和绝缘涂层
4.SurfixProS膜厚计量程：0~10mm 精度：0.1μm，见测头参数
5.带RS-232接口,背景光 .可连小打印机
6.探头需另选购

菲尼克斯Surfix Pro S膜厚仪技术参数

型号	Surfix S膜厚仪
探头连接方式	插拔式连线探头
探头选择	多种探头可选
测量范围	根据探头而定，最大可达10mm
测量精度	±（1µm+ 0.7%读数）
最高分辨率	0.1µm
统计功能	平均值、标准偏差、最大最小值（最高到10000个读数）
通讯功能	可接PC机或专用打印机（另配红外适配器）
最小测量面积	5X5mm
最小测量厚度	铁磁性基体0.2mm 非铁磁性基体0.05mm
尺寸、重量（不含探头）	137mmX66mmX23mm（不含探头）、重225g
符合标准	DIN、ISO、ASTM、BS

菲尼克斯Surfix Pro S膜厚仪可选探头：

探头型号	用途	测量范围
FN1.5	磁感应与涡流法两用	0～1500µm
FN0.2	磁感应与涡流法两用	0～200µm
FN3.5	磁感应与涡流法两用	0～3500µm
F10	磁感应法	0～10000