-
- 地区
- 全部
-
- 会员级别
- 全部
日本日置 IM3536 LCR测试仪
日本日置 IM3536 LCR测试仪DC,4Hz~8MHz测量频率,今后的标杆产品
测量频率DC,4Hz~8MHz
测量时间:最快1ms
基本精度:±0.05% rdg
1mΩ以上的精度保证范围,也可安心进行低阻测量
可内部发生DC偏压测量
从研发到生产线活跃在各种领域中
日本日置 IM3536 LCR测试仪主机不标配测试治具。请在选件中选择测试治具和探头。
日本日置 IM3536 LCR测试仪
测量模式 |
LCR(单一条件下测量),连续测量(保存条件下连续测量) |
测量参数 |
Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc(直流电阻),Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε |
测量量程 |
100 mΩ~100 MΩ, 10档量程(所有参数由Z规定) |
显示范围 |
Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等 |
基本精度 |
Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°(代表值,精度保证范围:1mΩ~200MΩ) |
测量频率 |
4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进) |
测量信号电平 |
[V模式,
CV模式]的[通常模式] |
DC偏压 |
发生范围:DC电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V) |
输出阻抗 |
通常模式:100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω |
显示 |
彩色TFT5.7英寸,触摸屏 |
功能 |
比较器、BIN测量(2个项目10种分类),触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能 |
接口 |
EXT I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出 |
电源 |
AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max |
体积及重量 |
330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg |
附件 |
电源线×1,使用说明书×1,CD-R(通讯说明书,LCR应用光盘)×1 |
日本日置 IM3536 LCR测试仪选配件
SMD测试治具IM9100
9263 直接连接型,底部有电极SMD用,DC~8MHz,可测量样品尺寸:0402~1005(JIS)
4端子探头9140-10
DC~200kH,50 Ω,1 m长
测试治具9261-10
9263 线长1m,DC~5MHz,特性阻抗50Ω,可测端口直径:0.3~1.5mm
测试冶具 9262
DC~8 MHz, 直结型
SMD测试冶具 9263
9263 直接连接型, DC~5 MHz 测试尺寸: 1mm~10.0mm
DC偏置电压单元 9268-10
直接连接型,40Hz~8MHz,最大外加电压DC±40V
DC偏置电流单元 9269-10
直接连接型,40Hz~2MHz,最大外加电流DC 2A(最大外加电压DC±40V)
4端子探头 9500-10
线长1m,DC~200kHz,50Ω,可测导体直径φ0.3mm~2mm
SMD测试治具9677
用于侧面有电极的SMDDC~120MHz,测试样品尺寸:3.5mm±0.5mm
SMD测试治具9699
用于底部有电极的SMDDC~120MHz,测试样品尺寸:宽1.0~4.0mm,高1.5mm以下
前端探针IM9901
用于更换L2001的前端的通用尺寸,L2001标配
前端探针IM9902
用于更换L2001的前端的小型尺寸
![](http://zt.yzimgs.com/ComFolder/927/image/201611/201611281213510881.png)
![](http://zt.yzimgs.com/ComFolder/927/image/201611/201611281213615831.png)
![](http://zt.yzimgs.com/ComFolder/927/image/201611/201611281213618291.png)
- 询价产品:日本日置 IM3536 LCR测试仪 IM3536
- 询价数量: /个
- 联系人:
- 联系电话: