TT230氧化膜测厚仪

TT230氧化膜测厚仪已经更新换代：TIME2501替代

TT230氧化膜测厚仪是一种超小型测量仪，TT230氧化膜测厚仪能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量。TT230氧化膜测厚仪可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于TT230氧化膜测厚仪体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。
TT230氧化膜测厚仪符合以下标准：
GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流方法
JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪
JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》

TT230氧化膜测厚仪特点

TT230氧化膜测厚仪采用了涡流测厚法，可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）
可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；
具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；
设有五个统计量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、
测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）；
具有米、英制转换功能；
具有打印功能，可打印测量值、统计值；
具有欠压指示功能；
操作过程有蜂鸣声提示；
具有错误提示功能；
具有自动关机功能。

TT230氧化膜测厚仪技术参数

测头类型		N
测量原理		电涡流
测量范围		0-1250um/0-40um(铜上镀铬)
低限分辨力		1µm(10um以下为0.1um)
探头连接方式		一体化
示值误差	一点校准(um)	±[3%H+1.5]
	两点校准(um)	±[（1%~3%）H+1.5]
测量条件	最小曲率半径(mm)	凸3 凹10
	基体最小面积的直径(mm)	ф5
	最小临界厚度(mm)	0.3
温湿度		0~40℃ 20%RH～90%RH
统计功能		平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）
工作方式		直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
测量方式		连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
上下限设置		无
存储能力		15 个测量值
打印/连接计算机		可选配打印机/不能连接电脑
关机方式		自动
电源		二节3.6V镍镉电池
外形尺寸		150×55.5×23mm
重量		150g

TT230氧化膜测厚仪配置

主机
标准片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）
铝基体
充电器