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表面粗糙度仪的由来
2010/2/25 23:11:51
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表面粗糙度仪的由来

为研究表面粗糙度对零件性能的影响和度量表面微观不平度的需要,从20年代末到30年代,德国、美国和英国等设计制作了轮廓记录仪、轮廓仪,给从数值上定量评定表面粗糙度创造了条件。从30年代起,已对表面粗糙度定量评定参数进行了研究,如美国的Abbott就提出了用距表面轮廓峰顶的深度和支承长度率曲线来表征表面粗糙度。1936年出版了Schmaltz论述表面粗糙度的专著,对表面粗糙度的评定参数和数值的标准化提出了建议。但粗糙度评定参数及其数值的使用,真正成为一个被广泛接受的标准还是从40年代各国相应的国家标准发布以后开始的,这样的仪器设备就叫表面粗糙度仪,由于以前叫表面光洁度所以表面粗糙度仪人们又习惯的成为表面光洁度仪。


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