X射线无损检测方案根据根据客户对检测精度、速度、自动化程度需求，主要分两类：

　　一类是检测精度要求高，检测速度要求低、人工识别，检测内容涉及检查焊缝、重要零部件(飞机、导弹、汽车)缺

　　陷、实验室分析、集成电路板焊点检测等领域，可采用以下方式：

　　稀土闪烁屏+高精度高灵敏CCD

　　影像增强器+高精度高灵敏CCD

　　非晶硅或非晶硒平板探测器

　　一类是在生产线上在线检测工件，检测速度(效率)要求高，能通过计算机自动标定缺陷位置或自动剔除不合格产

　　品。在工厂生产自动化程度越来越高的情况下，配合自动生产线检测工件，应用领域非常广。可采用以下方式：

　　影像增强器+高精度高灵敏CCD

　　线性二极管阵列扫描

　　CMOS阵列扫描

　　方案一：非晶硅或非晶硒平板探测器。

　　在医用领域运用较多，在工业检测领域主要应用在集成电路焊点检测和飞机零部件检测等，检测速度很低，检测精度

　　高，价格昂贵，使用环境要求严格。不适合流水线在线检测。方案一目前在工业无损检测中使用的比较少，主要约束

　　原因是其价格昂贵，检测速度慢。

　　方案二：稀土闪烁屏(或图像增强器)+高精度高灵敏CCD。

　　方案二技术较成熟，目前市场上现有的图像增强器所采用的CCD系统都是768×576，8bit的，在图像分辨率以及对比度

　　的指标上达不到本系统的要求。但是使用了性能较高的新型CCD后，整体系统性能可以大大提高，具体参考下表，符合

　　多数工业在线检测的要求。既能用于流水线检测又能进行精细检测。因为该方案成本较低，是常规无损检测领域应用最

　　广泛的一种方案。但因为检测精度和检测速度无法同时保证，因此在检测速度较慢时，可以检测非常精细的缺陷(例如焊缝检测);在检测速度较快时(自动化流水线上)，图像质量较差，实现自动识别难度较大，在自动化检测领域应用

　　较少。

　　方案三：线阵列探测器扫描。

　　方案三采用线性二极管阵列或CMOS线阵列探测器，技术先进，分立元件之间的互相干扰极小，图像分辨率很高，动态范

　　围可以和胶片媲美，使得整体的性能非常高。它的成像速度较快，适合于移动速度≤1m/s的流水线，在工件平移的同时

　　生成透视图像。但是，CMOS线阵列探测器的成本较方案二要高出很多。价格较贵，一般用于流水线检测。因其检测效率

　　和检测精度都较高，是目前自动化检测领域运用最多的一种方案。

　　项目 方案一 方案二 方案三

　　探测器类型 非晶硅平板探测器非晶硒平板探测器 图像增强器+ CCD稀土闪烁屏+CCD 二极管阵列扫描探测器CMOS阵列

　　扫描探测器

　　X光机焦点 无要求 微焦点(≤0.1mm)小焦点(≤1mm) 无要求

　　X光机造价 低 贵 低

　　成像面积 300mm*400mm ф65mm~145mm 80mm~1800mm宽长度不限

　　图像分辨率 7像素/mm，3~6Lp/mm 6象素/mm，2.5~3Lp/mm 12象素/mm，6Lp/mm

　　动态范围 12~16bit 8~10bit 12bit

　　图像获取速度 0.1~0.3帧/秒 25~50帧/秒 800线/秒

　　检测速度 7/min≤,一般适用静止状态检测 17/min，需要物体被检测时静止 60/min

　　检测效率 低 中 高

　　运动方式 静止 间歇性 连续性

　　适用流水线 否 能 能

　　信噪比 >100dB >33dB >100dB

　　灵敏度 高 一般 高

　　探测器造价 昂贵 适中 较贵

　　自动化检测 否能(但检测效率会降低) 能

　　特点 精度高，速度低，价格贵 各项均衡，性能一般 精度高，速度快，价格较贵

　　我公司是国内唯一具有集X射线探测、数字图像处理和机器视觉自动识别为一体的专业X射线无损检测设备设计生产单

　　位。独有的X射线机器视觉自动识别技术，使得X射线无损检测能够适应流水线自动化检测。

　　在线自动化X射线无损检测系统有以下优点：

　　检测效率高

　　检测精度准

　　运行成本低

　　全自动工作流程