膜厚镀层的测量勉强可以称为长度量测的一种,但实际上它的工作原理和测量方法与一般的长度测量是不一样的。

　　目前膜厚计测的要求有日渐增多的趋势,这是由于涂膜已不再只是美化材料表

　　面或防腐的功能而已,一些新的电器、电子 产品,都是利用涂膜的工件来担任一些重大的工作,因此膜厚的计测非常值得我们重视。

　　膜厚计可分为破坏式及非破坏式两种。依其针对的测量对象不同而有所区别。一般而言,膜厚测量有以下几种场合:

　　1.底材为磁性金属,而涂膜为非磁性金属:例如钢板在加工工厂加工、割切、 焊接时,须喷涂一层底漆(Shop PAINTING)。而此层涂漆如果太厚,非但耗费 漆材,而且严重防碍割切,焊接等工作的进行,但如果喷涂太薄,又容易导致钢 板生锈,以致影响施工品质。

　　2.底材为非磁性金属涂膜亦为非磁性金属:例如照相用底片为塑料材料,而其感光膜亦为非金属材料。(例如卤化银),测量膜厚主要是作为底片生产品质的控制,膜厚直接影响底片冲洗的时间及影像的清晰度。

　　3.底材为磁性金属而涂膜亦为磁性金属:例如电镀即是,镀膜膜厚通常与电镀时间有关,而镀膜是否均匀则依赖生产技术的改良,这时候便须有良好的膜厚计来加以检验了。

　　4.底材为非磁性金属而涂膜为磁性金属:喷敷技术或电镀时先将底材表面金属化,或是蒸镀 ,都可达成此一任务,产品的例子如全反射面镜,抗反射玻璃等等。有时因品质要求严格,其膜厚精度甚至控制在数 n m 左右。

　　现介绍各种不同的膜厚计测仪器如下:

　　1.破坏式膜厚计:利用钻石刀将底材连同膜厚截断,然后将断面置于光学颢微镜检查,其断面斜度有30度斜角,60度斜角及45度斜角的分别，亦有采用90度切断检查者。

　　2.光学椭圆仪:其原理是利用分光的技术,由于不同材料有不同折射率的特性 ,因此求得膜厚,其仪点为精度高,不论膜厚薄至数 n m ,也可以量取,但是缺点是价格较贵。

　　3.电磁性膜厚计:可分数显式及指针式专门量测第1种及 第2种场合的涂膜厚度,利用电磁感应的原理,当涂层越厚时,其电磁感应力越小。两者形成线性关系,由此可得膜厚之值,在使用时须注意校正工作,不同的底材,有不同的校正值,因此必须使用标准试片来归零。

　　第1种场合可测物品:

　　1.镀金、铜、锌、锡、铅、铬等。

　　2.薄层涂料、金属涂层、树脂涂层。

　　3.树脂、橡皮、玻璃线条(外形)。

　　4.磷酸防蚀、金属喷敷法。

　　5.薄膜、金属、树脂、橡皮、纸或其它非磁性材料。

　　第2种场合可测物品:

　　1.薄层涂料(漆、橡皮等树脂合成或涂料)。

　　2.树脂、橡皮、玻璃线条(或外形)。

　　3.氧化物薄膜与其它特别的薄膜。

　　4.橡皮，树脂合成薄膜在铜、黄铜、铝的板上。