最近有一些客户反映，用不同的品牌的LCR数字电桥或者同一品牌的lcr电桥的不同型号对兆欧级高阻抗电阻测量时，结果偏差很大，甚至是安捷伦，同惠的产品也是这样。经过我们仪器信息港(同惠上海总代)的工程师查阅了技术文献，走访了一些遇到这样问题的客户，我们给出了一下的解释，基本解决了LCR数字电桥如何测量兆欧级高阻抗电阻的问题。

　　如下图所示，高值电阻包含一个寄生低pF 级电容，这个电容与电阻是并联：

　　仪器信息港确认当使用 lcr数字电桥测量高值电阻时，应选择 Cp - Rp 测量功能(并联等效电路模式)，使测量电路模式与电阻的实际等效电路相匹配，如下图所示。

　　上图中，Xp 代表寄生电容在测试频率上的电抗(电容性阻抗)。公式“D”代表电阻在测试频率上的损耗因数。

　　如果使用 R - X 测量功能来测量电阻，那么 E4980A/ 4284A 采用如下所示的串联等效电路：

　　串联等效电路模式(R - X 测量中)不同于高值电阻的实际并联等效电路。因此， R - X 模式中的被测电阻与实际的并联电阻(Rp)不一致。从理论上讲，串联电阻(Rs)与并联电阻(Rp)的关系可用等式 Rs = Rp x D2 / (1 + D2) 表示。此处，串联和并联等效电路的损耗因数(D)值是相等的：

　　当D 值不够高(纯电阻性)时，串联电阻(Rs)总是低于并联电阻(Rp)。

　　所以，您在使用lcr数字电桥时测量高阻抗电阻时，请选好测试参数进行测量。本文章由仪器信息港编写，希望对您有所帮助。