同時，我們也得到了廠家的大力支持，2011年9月在深圳舉行的中國國際光電博覽會(CIOE)，廠家不但提供了樣機，還委派專門的技術人員在現場進行指導。我們有信心，將更好的產品和服務帶給更多的客戶，創造新的輝煌！


    (岱美公司員工造訪Filmetrics總部，與Filmetrics公司CEO及亞太區高級經理合影)


   (岱美公司參加2011年中國國際光電博覽會，展示Filmetrics產品樣機及其他產品)
 

美國Filmetrics公司成立於1995年，其主要產品薄膜厚度測量儀利用反射幹涉的原理進行無損測量，可測量薄膜厚度及光學常數。測量精度高、測量迅速、操作簡單、介面友好，是目前市場上最具性價比的薄膜厚度測量設備。可應用於光阻、半導體材料、高分子材料等薄膜層的厚度測量，在半導體、太陽能、液晶面板和光學行業以及科研院所和高校都得到了廣泛的應用和極大的好評。並且得到了R&D 100 Award大獎，目前全球已經裝機超過3000台。