由于客户的特殊应用，我们给该客户配置的该套测量系统考虑到了应用在透明与不透明基底的两种应用。充分满足客户的应用需求以及节省成本。

美国Filmetrics公司生产的F50薄膜厚度测量仪是具有自动Mapping功能的测量仪，具有其系列的所有优点：利用光谱反射的原理，测量精度达到埃级的分辩率,测量快，操作简单及最具性价比的薄膜厚度测量设备。Filmetrics公司的设备测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm，测量厚度从30A到500um范围。凡是光滑的，透明或半透明的，或是对光有吸收的膜层都可以测量。