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液晶单元的电容特性测量:电容-电压(C-Vac)特性是评价液晶材料性能的主要方法,常规仪器测量液晶单元的C-Vac特性遇到一个问题是最大测试电压不够。使用TH10301选件可提供分辨率为1%及最高达20Vms的可编程测试信号电平,使它能在最佳条件下进行液晶材料的电容特性测量。
LCR数字电桥半导体材料和元件的测量:进行MOS型半导体制造工艺评价时,需要氧化层电容和衬底杂质密度这些参数,这些可从C-Vdc特性的测量结果推导出来。20HZ-1 MHz的测量频宽及高达40VDC的可编程偏置电压方可方便地完成C-VDC特性的测量。为了测试晶圆上的半导体器件,需要延伸电缆和探头,仪器的2m/4m延伸电缆选件可将电缆延伸的误差降至最小。各种二极管、三机管、MOS管的分布电窜也是本仪器的测试内容。