(一)选型注意事项细则

　　1、为什么选择环测涂层测厚仪，环测产品的优势在哪里?

　　答：首先环测产品有非常高的质量保障，拥有国内最大最先进的生产线，近二十年的生产历史，目前国内占有率在70%以上，服务方面，环测公司国内有众多家分公司，数百家代理机构，最大限度的实现当地购买就近维修。作为一家以检测仪器为主业在深交所上市的高薪技术企业，环测公司在生产、开发、销售各方面拥有非常雄厚的实力。

　　2、环测涂层测厚仪主要测量什么材料的涂层?

　　答：环测涂层测厚仪可以测量磁性金属基材上的非磁性涂层的厚度，非磁性金属基材上非导电层的厚度。

　　3、环测涂层测厚仪可以测非金属材料上的涂层吗?

　　答：目前环测产的涂层测厚仪还不能够测量非金属材料上的涂层厚度，只能测量铁基上非磁性材料的涂层，非铁基金属材料上绝缘层的厚度。

　　另：对于非金属基体材料的涂层测量目前可选择电解、X射线、超声涂层等方面的仪器，但是各种方式都有利弊，电解会破坏材料，X射线测厚仪造价比较高，超声涂层测厚仪准确度及稳定性不是很好，目前有很多用户使用时代测厚仪通过间接方法进行测量，例如：喷涂过程中将金属材料与非金属材料同时喷涂，然后测量同一工艺下的金属涂层厚度，间接得出非金属材料喷涂的厚度。

　　4、环测涂层测厚仪可以测高温材料的涂层吗?

　　答：环测测厚仪不能测量高温材料，原则上只能测60度以下的材料。

　　5、环测涂层测厚仪可以测量镀镍层的厚度吗?

　　答：不能!因为镍既导磁有导电，所以不能测量镀镍层的厚度。

　　6、我厂的涂层为防火材料，厚度在 5-8个毫米，能否使用贵厂的产品进行测量。

　　答：选配TT260配以F10探头，可测量0-10mm的涂层厚度。

　　7、钢管的内外壁都镀有镀层，能否测量?

　　答：对于满足测量材料要求的管道内壁的电镀层时代有专门的F1/90探头，最小半径要求：

　　R>7mm即可。

　　8、镀层在5个微米左右可以测量吗?用哪款仪器更合适?

　　答：选配环测F400型探头可以稳定的测量5um的厚度

　　☆9、铜上镀铬能测吗?

　　答：环测涡流测厚仪可以测量铜上镀铬的工件，但是铬层必须小于40um。

　　10、可以测量薄膜、纸张的厚度吗?

　　答：对于满足厚度要求的薄膜、纸张的厚度通过底部衬金属基材的方式是可以测量的，目前这方面的应用客户很多。

　　11、环测测厚仪可以测量螺杆上螺纹涂层的厚度吗?

　　答：直径比较小的螺杆上面螺纹涂层的厚度目前时代仪器不能测量。

　　12、什么情况下选择配通讯软件，环测通讯软件有哪些功能?

　　答：目前环测涂层测厚仪中TT260可以选配通讯软件，新版软件在原软件基础上进行了升级，功能强大实用性强，包括联机下载、数据存储、测量分析、技术支持等，输出方式有WORD文档、EXCEL表格、TXT文本、HTML网页，可与计算机实现实时传输、实时打印。当用户需要对测量数据进行系统分析建立数据库时建议选用时代TT260通讯软件。

　　13、CN02探头是用来测什么材料的?

　　答：CN02探头是专门用来测量线路版上铜箔厚度的，量程为0-200um

　　(二)涂层测厚仪影值的因素

　　1.影响因素的有关说明

　　a) 基体金属磁性质

　　磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的)，为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。

　　b) 基体金属电性质

　　基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

　　c) 基体金属厚度

　　每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。

　　d) 边缘效应

　　本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

　　e) 曲率

　　试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

　　f) 试件的变形

　　测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。

　　g) 表面粗糙度

　　基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。

　　g) 磁场

　　周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。

　　h) 附着物质

　　本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。

　　i) 测头压力

　　测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。

　　j) 测头的取向

　　测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。

　　2.使用仪器时应当遵守的规定

　　a) 基体金属特性

　　对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。

　　对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。

　　b) 基体金属厚度

　　检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，可采用3.3)中的某种方法进行校准。

　　c) 边缘效应

　　不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。

　　d) 曲率

　　不应在试件的弯曲表面上测量。

　　e) 读数次数

　　通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。

　　f) 表面清洁度

　　测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。