变频抗干扰介质损耗测试仪详细技术参数

2012/9/24 18:01:01

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变频抗干扰介质损耗测试仪详细技术参数

1、抗干扰方式：变频抗干扰

2、测试方式：正接法 反接法 自激法 外接法

3、测量范围：

电容量：内接高压 <3pF~60000pF/10kV 60pF~1μF/0.5kV

外接高压 3pF~0.3μF/10kV 最小分辨率 0.01pF 有效数字五位

介损：不限,最小分辨率0. 01%

4、准确度：

电容量：±(1.5%读数+2pF) 介损：±(2%读数+0.09%)

内接试验电源：0.5~10kV 电压缓升缓降 45、50、55、60、65Hz单频

45/55Hz自动双频测试 最大输出电流200mA

自激电源3~50V变频 最大输出电流20A

5、测量时间：约30秒（与测量方式有关） 6、附加功能：100组数据存储

6、输入电源：供电电源180~240VAC 50Hz（市电或发电机供电）

7、工作环境：温度范围：－10℃~50℃ 相对湿度<90%

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