3.3选择接线方式
光标在“正接”,按↑↓选择“正接”、“反接”和“CVT”测量方式。
3.4选择内、外标准电容
光标在②,按↑↓选择“内标准”“外标准”,表示使用内或外接标准电容。通常可用内部标准作正、反接线测量和CVT自激法测量,高电压介损选用外标准方式,需要将外接电容参数置入仪器。光标在“外cn”,按住“启停”键1s以上出现外标准电容值,按↑↓键 可以修改此数值。修改完毕按住“启停”键1s左右,听到蜂鸣器响一声,松开键盘即可保存。
3.5选择试验频率
3.5.1开机默认频率
光标在 “变频”,表示45/55Hz自动变频。仪器自动用45Hz和55Hz各测量一次,然后计算50Hz下无干扰时数据。开机自动默认为该方式,建议使用。
3.5.2选择更多频率
光标在“变频”,按住“启停”键1s以上切换到全频率选择,按↑↓键循环显示“45Hz / 50Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz / 50±5Hz / 60±5Hz / 50±2.5Hz”:
“50Hz”:为工频测量,此设置不能抗干扰,在试验室内测量或校验时选用。
“45/55/60/65Hz”:为单频率测量,研究不同频率下介损的变化时选用。
“50±5Hz”:为45/55Hz自动变频,适合50Hz电网工频干扰下测量。
“60±5Hz”:为55/65Hz自动变频,适合60Hz电网工频干扰下测量。
“50±2.5”:为47.5/52.5Hz自动变频,适合50Hz电网工频干扰下测量。
按住“启停”键1s以上取消全频率选择。
3.6选择试验高压
3.6.1正/反接线方式下选择高压
光标在10kV,按↑↓键循环显示试验高压“0.5 /0.6 /0.8 /1 /1.5 /2 /2.5 /3 /3.5 /4 /4.5 /5 /5.5 /6 /6.5 /7 /7.5 /8 /8.5 /9 /9.5 /10kV”。应根据高压试验规程选择试验高压。
启动测量后,该处显示测量高压.下方显示In=158uA Ix=10mA
In=158uA 表示流过标准电容的电流,单位为 uA 。
Ix=10mA 表示流过试品的电流,单位为 mA 。
如果In=000 uA ,表示内部高压没有输出,或仪器有问题。请先查看屏幕是否选择为内Un,内Cn
3.6.2 CVT自激法接线方式下选择高压
CVT自激法测量必须使用内部高压电源,由机内提供激励电压,由“CVT1”和“CVT2”输出。通常测量C1时低压激励电压可达20V,测量C2时低压激励电流可达15A。一般可设高压电压1.5~2kV。
3.7自动打印
光标在10KV,按“确认”键可显示或取消屏幕左下角处打印机图标 ,有此图标表示测量结束自动打印。
3.8启动测量
光标在启动,按住“确认”键1s以上启动测量。
启动测量后发出声光报警;屏幕右下角处指示0%~99%表示测量进程。
测量中按“确认”键取消测量,遇紧急情况立即关闭总电源。
3.10查看数据
显示结果后,按↑键可查看其它数据,按↓键 存储数据。按→键 移动光标选择print或 quit.
Print 打印当前数据。Quit 返回初始画面。
正/反接线显示数据如下:
仪器自动分辨电容、电感、电阻型试品:电容型试品显示Cx和tgδ;电感型试品显示Lx;电阻型试品显示Rx和附加Cx或Lx。自动选取显示单位。
试品类型 | 显示数据 | 备注 |
电容 | Cx,tgδ,U,I,F1,F2 | |
电感 | Lx,U,I,F1,F2 |
电阻 | Rx,U,I,F1,F2 |
Cx 试品电容量[1μF=1000nF纳法 / 1nF=1000pF],如显示10.00nF即10000pF
tgδ 介损因数[1%=0.01]
Lx 试品电感量[1MH兆亨=1000kH / 1kH=1000H]
Rx 试品电阻值[1MΩ=1000kΩ / 1kΩ=1000Ω]
U 试验电压[1kV=1000V / 1V=1000mV]
I 试品电流[1A=1000mA / 1mA=1000μA]
F1 频率[Hz],指定频率显示实际频率
F2 频率[Hz],指定频率显示实际频率
CVT自激法测量显示数据为:C1、tgδ / C2、tgδ
按测量接线,与试品输入Cx插座连接的定义为C1,与高压线连接的为C2。
3.11与计算机连接
连接好计算机后,可以上传数据等功能。
3.12参考接线
3.12.1正接线、内标准电容、内高压(常规正接线):
3.12.2反接线、内标准电容、内高压(常规反接线):
3.12.3正接线、外标准电容、内高压:
3.12.4反接线、外标准电容、内高压:
3.12.5正接线、内标准电容、外高压:
3.12.6反接线、内标准电容、外高压:
3.12.7正接线、外标准电容、外高压(高电压介损):
3.12.8反接线、外标准电容、外高压:
3.12.9 CVT自激法测量:
CVT自激法可按下图接线。如果C1是单节电容,母线不能接地;如果C1是多节电容,母线可接地,C11和C12可用常规正反接线测量,C13和C2用自激法测量。
CVT自激法测量中,仪器先测量C1,然后自动倒线测量C2,并自动校准分压影响。
应注意,高压线应悬空不能接触地面,否则其对地附加介损会引起误差,可用细电缆连接高压插座与CVT试品并吊起。强烈建议使用高压插座使用的高压线用黑色Cx线。
3.13附加功能
1.光标在 电压:10kV上面时候,按“确认”键在仪器屏幕的左下角会出现 图标,代表测试结束自动打印。如果再按确认键,图标消失,代表测试结束必须手动才能打印。
2.光标在 变频 上面时候,在反接线,内Cn,内Un,情况下,按确认键在仪器屏幕右下角会出现 图标,代表反接线低压屏蔽测试。如果再按确认键,图标消失,代表取消反接线低压屏蔽。
3.光标在 反接 上面时候,按确认键则测试打印机,换纸。
4.光标在 启动 上面时候,按减小键则代表取出存储的数据。
5.测试完毕,如果按减小键,则代表存储测试的数据
4. 新增功能使用说明
4.1KTJSYBP变频抗干扰介质损耗测试仪 反接线低压屏蔽
光标在 变频 上面时候,在反接线,内Cn,内Un,情况下,按确认键在仪器屏幕右下角会出现 图标,启动反接线低压屏蔽功能。
可在220kVCVT母线接地情况下,对C11进行不拆线10kV反接线介损测量。如下图所示:母线挂地线,C11上端不拆线,C11下端接高压线芯线,C2末端δ和X接Cx芯线。这样C12和C2被低压屏蔽,仪器采用反接线/10kV/M测量方式,测量出C11。
5. KTJSYBP变频抗干扰介质损耗测试仪 新增功能使用说明 5.1 配置热敏打印机:在打印时更加迅速、无噪音。仪器能自动根据环境温度,调节打印质量,确保打印更加清晰。
5.2 放电提示
仪器在测试过程中自动监测接线情况,如果在回路中有接触不良或打火放电的情况,仪器会在屏幕左侧显示 和放电次数,一般情况下放电次数不大于20。
5.3 CVT变比测试
仪器高压线的芯线红夹子接CVT的上端,母线拆地。CVT下端接地,低压线红黑夹子接二次绕组,注意:如果测试角度接近180度,应将红黑夹子颠倒。
5.4 反接线低压屏蔽功能,一次接线可同时测出C1和C2的电容量和介损
光标在 变频 上面时候,在反接线,内Cn,内Un,情况下,按确认键在仪器屏幕右下角会出现 图标,启动反接线低压屏蔽功能。
打开反接线低压屏蔽,可在上端电容C1不拆母线的情况下,对其进行不拆线10kV反接线介损测量。如下图所示:母线挂地线,C1上端不拆线,C1下端接高压线芯线,C2末端接Cx芯线。仪器采用反接线/10kV/M测量方式,可同时测出C11和下端屏蔽部分的电容量和介损值。
6 现场试验注意事项
如果使用中出现测试数据明显不合理,请从以下方面查找原因:
6.1搭钩接触不良
现场测量使用搭钩连接试品时,搭钩务必与试品接触良好,否则接触点放电会引起数据严重波动!尤其是引流线氧化层太厚,或风吹线摆动,易造成接触不良。
6.2接地接触不良
接地不良会引起仪器保护或数据严重波动。应刮净接地点上的油漆和锈蚀,务必保证0电阻接地!
6.3直接测量CVT或末端屏蔽法测量电磁式PT
直接测量CVT的下节耦合电容会出现负介损,应改用自激法。
用末端屏蔽法测量电磁式PT时,由于受潮引起“T形网络干扰”出现负介损,吹干下面三裙瓷套和接线端子盘即可。也可改用常规法或末端加压法测量。
6.4空气湿度过大
空气湿度大使介损测量值异常增大(或减小甚至为负)且不稳定,必要时可加屏蔽环。因人为加屏蔽环改变了试品电场分布,此法有争议,可参照有关规程。
6.5发电机供电
发电机供电时输入频率不稳定,可采用定频50Hz模式工作。
6.6测试线
由于长期使用,易造成测试线隐性断路,或芯线和屏蔽短路,或插头接触不良,用户应经常维护测试线;
测试标准电容试品时,应使用全屏蔽插头连接,以消除附加杂散电容影响,否则不能反映出仪器精度;
自激法测量CVT时,非专用的高压线应吊起悬空,否则对地附加杂散电容和介损会引起测量误差。
6.7工作模式选择
接好线后请选择正确的测量工作模式(正、反和CVT),不可选错。特别是干扰环境下应选用变频抗干扰模式。
6.8试验方法影响
由于介损测量受试验方法影响较大,应区分是试验方法误差还是仪器误差。出现问题时可首先检查接线,然后检查是否为仪器故障。
6.9仪器故障
用万用表测量一下测试线是否断路,或芯线和屏蔽是否短路;输入电源220V过高或过低;接地是否良好。
用正、反接线测一下标准电容器或已知容量和介损的电容试品,如果结果正确,即可判断仪器没有问题;
拔下所有测试导线,进行空试升压,若不能正常工作,仪器可能有故障。
启动CVT测量后测量低压输出,应出现2~5V电压,否则仪器有故障。
7.1用标准损耗器检定
用带插头的屏蔽电缆连接标准损耗器。如果不能保证标准损耗器的精度,应使用比对法检定,建议用2801电桥或其它精密电桥作比对标准。
仪器应选用“内标准”和“RC串联试品”,可选择工频 50Hz或定频50Hz频率模式。
7.2用QSJ3检定
使用带插头的屏蔽电缆连接QSJ3,选择“正接/ 外Cn / 外Un式测量,电流比为Cx∶Cn,Cn可置入适当值。
7.3抗干扰能力
设置一个回路向仪器注入定量的干扰电流。
注意:
1)应考虑到该回路可能成为试品的一部分。
2)仪器启动后会使220V供电电路带有测量频率分量,如果该频率分量又通过干扰电流进入仪器,则无法检验仪器的抗干扰能力。
3)不建议用临近高压导体施加干扰,因为这样很容易产生近距离尖端放电,这种放电电阻是非线性的,容易产生同频干扰。
8.1仪器结构
仪器结构框图
测量电路:傅立叶变换、复数运算等全部计算和量程切换、变频电源控制等。
控制面板:打印机、键盘、显示和通讯中转。
变频电源:采用SPWM开关电路产生大功率正弦波稳压输出。
升压变压器:将变频电源输出升压到测量电压,最大无功输出2kVA / 1分钟。
标准电容器:内Cn,测量基准。
Cn电流检测:用于检测内/外标准电容器电流。
Cx正接线电流检测:只用于正接线测量。
Cx反接线电流检测:只用于反接线测量。
反接线数字隔离通讯:用高速数字隔离通讯电路,将反接线电流信号送到低压侧。
8.2KTJSYBP变频抗干扰介质损耗测试仪工作原理
启动测量后高压设定值送到变频电源,变频电源用PID算法将输出缓速调整到设定值,测量电路将实测高压送到变频电源,微调低压,实现准确高压输出。根据正/反接线和内/外标准电容的设置,测量电路根据试验电流自动选择输入并切换量程,测量电路采用傅立叶变换滤掉干扰,分离出信号基波,对标准电流和试品电流进行矢量运算,幅值计算电容量,角差计算tgδ。反复进行多次测量,经过排序选择一个中间结果。测量结束,测量电路发出降压指令变频电源缓速降压到0。
CVT测量:CVT隔离开关断开,低压隔离开关接通输出低压。测量C2时,CVT倒线开关接通,C2接入试品通道,用C1作标准电容测量C2。
9.1变频测量
干扰十分严重时,变频测量能得到准确可靠的结果。例如用55Hz测量时,测量系统只允许55Hz信号通过,50Hz干扰信号被有效抑制,原因在于测量系统很容易区别不同频率,由下述简单计算可以说明选频测量的效果:
两个频率相差1倍的正弦波叠加到一起,高频的是干扰,幅度为低频的10倍:
Y=1.234sin(x+5.678°)+12.34sin(2x+87.65°)
在x=0/90/180/270°得到4个测量值
Y0=12.4517,Y1= -11.1017,Y2=12.2075,Y3= -13.5576,
计算A=Y1 - Y3=2.4559,B=Y0 - Y2=0.2442,则:
φ=tg-1(B/A)=5.678° V= A2+B2 / 2=1.234
这刚好是低频部分的相位和幅度,干扰被抑制。实际波形的测量点多达数万,计算量很大,结果反映了波形的整体特征。
9.2频率和介损的关系
介损有RC串联和并联两种理想模型:串联模型tgδ=2πfRC,并联模型tgδ=1/(2πfRC),tgδ分别随频率f成正比和反比。如图所示,f对完全正比和完全反比两种模型影响较大。但实际电容器是多种模型交织的混合模型,此时f的影响就小。
tgδ 串联模型 tgδ
介损恒定
实际试品
并联模型
f f
低频介损曲线(<1kHz) 高频介损曲线或低频电路谐振
9.3自动变频与50Hz等效
仪器采用自动变频在干扰频率50Hz两侧(45Hz和55Hz)各测一个点,然后推算50Hz频率下数据。除多个元件电路的低频谐振外,单个试品中的介质不可能在低频引起能量吸收峰,工频附近介损总是随频率单调变化的。因此这种测量方法不会带来明显误差。实际上,平均前的两个介损值已十分接近,即使不平均也完全有参考价值。目前,变频介损仪已成为介损测量的常规仪器,其优异的抗干扰能力和准确度已经得到认可。
产品免费质保18个月,终身维护。