时代TT220/230膜测厚仪校准方法-仪表展览网
筛选
  • 地区
    全部
  • 会员级别
    全部
筛选
  • 截止时间
    全部
时代TT220/230膜测厚仪校准方法
2012/10/16 8:03:05
浏览:2072
 时代TT220/230膜测厚仪校准方法

为使 TT220/230涂层测厚仪 测量准确,应在测量场所对TT220/230涂层测厚仪进行校准。一、 TT220/230涂层测厚仪的校准标准片(包括箔和基体)

已知厚度的箔或已知覆盖层厚度的试样均可作为校准标准片。简称标准片。

⒈ 校准箔
对TT220/230涂层测厚仪“箔”是指非磁性金属或非金属的箔或垫片。“箔”有利于曲面上的校准。

⒉ 有覆盖层的标准片
采用已知厚度的、均匀的、并与基体牢固结合的覆盖层作为标准片。对于本仪器,覆盖层应是非磁性的。

二、时代TT220/230膜厚仪的基体

⒈ 对于 TT220/230涂层测厚仪 标准基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与待测试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。为了证实标准片的适用性,可用标准片的基体与待测试件基体上所测得的读数进行比较。

⒉ 如果待测试件的基体金属厚度没有超过参数表中所规定的临界厚度,可采用下面两种方法进行校准:
1) 在与待测试件的基体金属厚度相同的金属标准片上校准;
2) 用一足够厚度的,电学或磁学性质相似的金属衬垫标准片或试件,但必须使基体金属与衬垫金属之间无间隙。对两面有覆盖层的试件,不能采用衬垫法。
⒊ 如果待测覆盖层的曲率已达到不能在平面上校准,则有覆盖层的标准片的曲率或置于校准箔下的基体金属的曲率,应与试样的曲率相同。

三、时代TT220/230膜厚仪的校准方法

TT220/230涂层测厚仪 有两种测量中使用的校准方法,零点校准;二点校准;还有一种针对测头的基本校准。

⒈ TT220/230膜厚仪的零点校准

a. 在基体上进行一次测量,仪器显示<×.×μm>。
b. 按一下“ON/C”键,屏显<0.00μm>即完成零点校准。
c. 要准确地校准零点,须重复上述a、b 以获得基体测量值小于1μm,这样有利于提高测量精度。零点校准完成后就可进行测量了。

⒉ TT220/23膜厚仪的二点校准

a. 先校零点(见上)。
b. 在厚度大致等于预计的待测覆盖层厚度的标准片上进行一次测量,屏幕显示<×××μm>。
c. 用▲或▼键修正读数,使其达到标准片上的标称值。校准已完成,可以开始测量了。
注意:即使显示结果与标准片值符合,按▲、▼键也是必不可少的,例如按一次▲键一次▼键。如欲较准确地进行二点校准,可重复b、c 过程,以提高校准的精度,减少偶然误差。

⒊ TT220/230膜厚仪在喷沙表面上校准

喷沙表面的特性导致了测量值大大偏离真值,其覆盖层厚度大致可用下面的方法确定
a. 仪器要用三、⒈或三、⒉的方法在曲率半径和基材相同的平滑表面校准好。
b. 在未涂覆的经过同样喷沙处理的表面测量10 次左右,得到平均值Mo。
c. 然后,在已涂覆的表面上测量10 次得到平均值Mm。
d. (Mm—Mo)±S 即是覆盖层厚度。其中S(标准偏差)是SMm 和SMo 中较大的一个。

⒋ TT220/230膜厚仪的基本校准

在下述情况下,改变基本校准是有必要的:
──测头顶端被磨损
──测头修理后
──特殊的用途
在使用过程中,如果误差明显地超出给定范围,则应对测头的特性重新进行校准,称为基本校准。通过输入6 个校准值(一个零值和5 个厚度值)可重新校准测头。

TT220/230膜厚仪 基本校准操作方法如下:
a. 在仪器关闭状态下按住▼键再按ON/C 键开机,随着一声鸣响即进入基本校准方式。屏幕显示:B—Calibrate
b. 先校零值(见零点校准)。可连续重复多次,以获得一个多次校准的平均值,这样可提高校准的准确性。
c. 使用标准片,按厚度增加的顺序做五个厚度的校准(见二点校准中的b、c)。每个厚度应至少是上一个厚度的1.6 倍以上,理想的情况是2倍。例如:50、100、200、400、800μm。最大值应接近、但低于测头的最大测量范围。
d. 在输入6 个校准值后,测量一下零点,仪器自动关闭,新的校准值已存入仪器。当再次开机时,仪器将按新的校准值工作。

相关资讯推荐