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X光镀层测厚仪原理
2013/7/4 10:04:52
浏览：20555
X射线镀层测厚仪/X光镀层测厚仪
检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...
可测单层,双层,多层,合金镀层,
测量范围:0.04-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
全自动台面,自动雷射对焦,操作非常方便简单
X射线镀层测厚仪的测量原理
物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析
应用实例图示
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（1）单镀层：Ag/xx |
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（2）合金镀层：Sn-Pb/xx |
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（3）双镀层：Au/Ni/xx |
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Ag |
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Sn-Pb |
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Au |
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底材 |
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底材 |
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Ni |
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底材 |
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（4）合金镀层：Sn-Bi/xx |
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（5）三镀层：Au/Pd/Ni/xx |
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（6）化学镀层：Ni-P/xx |
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Sn-Bi |
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Au |
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Ni-P |
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底材 |
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Pd |
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底材 |
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Ni |
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底材 |