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三维扫描技术的发展
2013/11/22 14:12:10
浏览:2009
         三维扫描技术的发展:

      第一代:点测量 ——适合做物体表面误差检测
     代表系统有:三坐标测量仪;点激光测量仪;关节臂扫描仪(精度不高)。通过每一次的测量点反映物体表面特征,优点是精度高,但速度慢,如果要做逆向工程,只能在测量较规则物体上有优势。

 

   第二代:线测量——适合扫描中小件物体,扫描景深小(一般只有5公分),精度较低,此系统是过渡性产品。
      代表系统有:三维激光扫描仪,三维手持式激光扫描仪,关节臂+激光扫描头。通过一段(一般为几公分,激光线过长会发散)有效的激光线照射物体表面,再通过传感器得到物体表面数据信息。

 

   第三代:面扫描——适合大中小物体的扫描,精度较低,扫描速度极快(单面400×300mm 面积,时间≤5秒),测量景深很大,一般为300-500mm,甚至更大。
       代表系统: 三维扫描仪 (结构光、光栅式扫描仪),三维摄影测量系统等。通过一组(一面光)光栅的位移,再同时经过传感器而采集到物体表面的数据信息。

 
  
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