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Dantsin-Trimos TRscan非接触式微观形貌测量仪,其稳固的机械结构保证非接触测量达到纳米级别。快速装夹系统让您可快速更换测头且无需重启软件。极简设计的Trimos Nanoware测量软件可进行2D测量。内置“垂直拼接”功能以扩展传感器的测量范围。“宏程序”功能可实现完全的自动测量。使用一个小托盘夹具即可将其放在生产线中进行批量测量。
多国语言分析软件,可以根据当前的粗糙度标准和可用参数(如Ra、Rz、Rq等)生成测量报告。同一测量报告可以重复用于多个不同的项目。可进行动态分析,允许 选择某些特定参数,而无需修改测量值。广泛的传感器可供选择,以满足您所有 的非接触式测量需求。TR-Scan配备一个大数值孔径的测头,可以以35纳米的分辨率进行1毫米高度的测量,爬坡角度高达45度。
可选配置: