德国Werth 低接触力测头
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价格: 面议
产品型号:德国Werth Force Probe LFP
公司名称:北京丹青瑞华科技有限公司
地:广东深圳
发布时间:2013-05-08
北京丹青瑞华科技有限公司
产品简介
德国Werth 低接触力测头,Werth测量机可以集成传感器:接触式单点、接触式扫描、低接触力测头、激光线扫描、快速激光、WERTH光纤侧头,WERTH光学测头、普通光学测头、可见光干涉测头、接触式和激光复合的粗糙度测头,WERTH CT测头等十多种。
产品详情
德国Werth 低接触力测头

 

Werth Low Force Probe LFP:
应用优点
 
◆  适合于橡胶件,塑料件,薄壁件和其它灵活材料零件的测量
◆  由于LFP的接触力非常之小,可以省去复杂的工件装卡
◆  由于LFP的接触力非常之小,测量杆可以做到非常长(40毫米)或者非常短(0.3到1.6毫米),测量头的直径也可以做得非常小
◆  LFP的构造(没有可移动件,非磁性的材料)使其可以测量带有磁性的工件
◆  全面地集成到Werth多传感器测量概念中
◆  超高精度的5向接触的测头 
◆  安装选项 
-在PH6或者PH1头部的M8螺纹上安装 
-通过在PH10M上的自动连接器PAA1,连接头SP25/SP600或者MIH 
  
*) 最大的可靠的接触测量偏差;使用Werth 标准体,根据ISO 10360和VDI 2617 

技术数据:

◆ 接触力小于0.0001牛顿
◆ 测量方向 +/-X, +/-Y, +Z
◆ 接触精度 MPE*
 (测量头连接杆的长度40毫米,测量头的直径为1毫米):
◆ 单点测量:
     P1: 0.75 μm
     P2: 1.5 μm
     P3: 4.5 μm

技术数据:

接触力小于0.0001牛顿
测量方向 +/-X, +/-Y, +Z
接触精度 MPE*
 (测量头连接杆的长度40毫米,测量头的直径为1毫米):
单点测量:
     P1: 0.75 μm
     P2: 1.5 μm
     P3: 4.5 μm
 

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