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产品型号：ATS-750-M
公司名称：苏州茂旭电子有限公司
所在地：江苏苏州
发布时间：2019-02-09
苏州茂旭电子有限公司
产品简介
高低温气流冲击测试设备 ATS-750-M：
高低温气流冲击测试设备 ATS-750-M可用以质量保证，品质分析，失效分析和产品测试等多个领域。 可以为元器件，电路板，模块和其他的部件测试提供一个(-100℃ ~ 300℃)的方便快速的温度测试环境，并可循环测试。
产品详情
测试温度范围: -90℃ ~ 300℃
降温速度 : -55℃ ~ 125℃ ,< 10 秒
待测元器件控制方便
可用循环测试模式
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联系人：徐
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高低温气流冲击测试设备 ATS-750-M：
inTest TS台式&便携高低温气流冲击测试设备 ATS-750-M：
高低温气流冲击测试设备 ATS-750-M可用以质量保证，品质分析，失效分析和产品测试等多个领域。
高低温气流冲击测试设备 ATS-750-M可以为元器件，电路板，模块和其他的部件测试提供一个(-100℃ ~ 300℃)的方便快速的温度测试环境，并可循环测试。
高低温气流冲击测试设备ATS-750-M
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型号 |
温度范围 °C |
输出气流量 |
变温速率 |
温度 |
温度显示 |
温度 |
远程 |
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ATS-750 |
-85至+300 50Hz |
4 至18 scfm |
-55至 +125°C 约 10 s |
±1℃ |
±0.1℃ |
T型或K型热电偶 |
IEEE 488 |
测试温度范围: -90℃ ~ 300℃
降温速度 : -55℃ ~ 125℃ ,< 10 秒
待测元器件控制方便
可用循环测试模式
GPIB, RS232接口
- 询价产品：高低温气流冲击测试设备 ATS-750-M
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