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超低双电四探针测试仪
双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高**度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。
超低双电四探针测试仪
选购:本机还可以配合各类环境温度试验箱体使用,通过不同的测量治具满足不同环境温度下测量方阻和电阻率的需求.
超低双电四探针测试仪
二、广泛用于:覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试
超低双电四探针测试仪
硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电供应FT-361超低阻双电四探针测试仪性薄膜,金属薄膜,抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等
三、参数资料
1.方块电阻范围:10-6~2×102Ω/□
2.电阻率范围:10-7~2×103Ω-cm
3.测试电流范围:0.1μA ,1μA,10μA,100µA.
4.电流精度:±0.1%读数
5.电阻精度:≤0.3%
6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率.
7.测试方式: 双电测量
8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W
9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)
10.选购功能: 选购1.pc软件; 2.方形探头; 3.直线形探头; 4.测试平台
11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针
ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业.
专业与精致并重;优良与智慧之原
超低双电四探针测试仪
- 询价产品:超低双电四探针测试仪 FT-361
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