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按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针
法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准,本机配置232电脑接口及USB两种接口。
四探针方阻电阻率测试仪
本机采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确.
四探针方阻电阻率测试仪
规格型号
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FT-331
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FT-332
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FT-333
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FT-334
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FT-335
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FT-336
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1.方块电阻范围
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10-4~2×105Ω/□
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10-4~2×103Ω/□
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10-3~2×105Ω/□
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10-3~2×103Ω/□
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10-2~2×105Ω/□
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10-2~2×103Ω/□
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2.电阻率范围
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10-5×106cm
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10-5×104-cm
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10-4~2×106Ω-cm
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10-4~2×104-cm
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10-3~2×106Ω-cm
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10-3~2×104-cm
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3.测试电流范围
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0.1μA ,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA
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10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA
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0.1μA ,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA
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10μA,100µA,1mA,10mA,
100 mA
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0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA
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1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA
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4.电流精度
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±0.1%读数
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±0.2%读数
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±0.2%读数
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±0.3%读数
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±0.3%读数
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±0.3%读数
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5.电阻精度
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6.显示读数
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液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
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7.测试方式
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普通单电测量
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8.工作电源
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输入耗:(标准样片结果)
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10.选购功能
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选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台
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专业与精致并重;优良与智慧之原
四探针方阻电阻率测试仪