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半导体电阻率测试仪
适用范围
1.覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试
半导体电阻率测试仪
2.硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,
3.EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜,
4.抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等,
半导体电阻率测试仪
功能描述Description:
1. 四探针组合双电测量方法
2. 液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.
3. 集成电路系统、恒流输出.
4. 选配:PC软件进行数据管理和处理.
5. 提供中文或英文两种语言操作界面选择
参照标准:
1.硅片电阻率测量的标准(ASTM F84).
2.GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》.
3.GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.
4.GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.
1. 开启电源,预热5分钟.
2. 装配好探头和测试平台.
3. 设定所需参数.
4. 测量样品
5. 导出数据.
半导体电阻率测试仪
![](http://zt.yzimgs.com/ComFolder/603961/image/202003/20200317912815601.jpg)
- 询价产品:半导体电阻率测试仪 FT-343
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