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本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输**、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,
四探针测试仪测量半导体材料的方块电阻
配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。
四探针测试仪测量半导体材料的方块电阻
利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高**度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。
规格型号
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FT-341
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FT-342
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FT-343
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FT-345
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FT-346
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FT-347
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1.方块电阻范围
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10-4~2×105Ω/□
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10-4~2×103Ω/□
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10-3~2×105Ω/□
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10-3~2×103Ω/□
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10-2~2×105Ω/□
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10-2~2×103Ω/□
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2.电阻率范围
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10-5~2×106Ω-cm
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10-5~2×104-cm
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10-4~2×106Ω-cm
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10-4~2×104-cm
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10-3~2×106Ω-cm
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10-3~2×106Ω-cm
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3.测试电流范围
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0.1μA,μA,0μA,100µA,1mA,10mA,100 mA
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1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA
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0.1μA,μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA
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1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA
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0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA
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1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA
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4.电流精度
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±0.1%读数
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±0.2%读数
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±0.2%读数
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±0.3%读数
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±0.3%读数
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±0.3%读数
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5.电阻精度
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6.显示读数
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大屏液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
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7.测试方式
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双电测量
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8.工作电源
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输入耗:(标准样片结果)
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10.选购功能
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选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台
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专业与精致并重;优良与智慧之原