DAGE X-ray、DAGE X光检测仪设计满足PCB和半导体工业的增长需求，用户可以轻松获取高质量、高放大倍数和高分辨率下的被测物任何方位的图像。

Dage XD7800VR X光检查机

产品参数：

1  最小分辨率: 950 纳米 (0 .95 微米 )；
2  影像接收器左右偏转角度各70 度（共 140 度），旋转 360 度；
3  最大检测区域: 24 ” x 30” (610 x 762 mm )；
4  最大样品尺寸: 24.3” x 33” (617 x 838 mm )；
5  最大样品重量: 10KG ；
6  系统最大放大倍数: 至 5650 X ；
7  图像采集: 1.3 M 万数字 CCD ；
8  显示器: 20" (DVI interface) 数字彩色平板 LCD 
 
产品规格：

设备外形尺寸：长：1975mm 宽：2400mm 高：2060mm
重量： 3000kg
电源： 单相 220-230V, 最大 16A , 50 or 60 Hz