超薄膜附着强度测试仪 CSR-2000

超薄膜附着强度测试仪

基于JIS R-3255标准，以MICRO SCRATCH法评价光学薄膜、半导体扩散工程、表面改质以及记忆媒体等各种用途的薄膜与基材，或薄膜与界面之间的密着力（附着强度）的超薄膜附着强度测试仪。

超薄膜附着强度测试仪的概要及特点

超薄膜附着强度测试仪的概要

原子化（分子化）的膜材料到达基材表面成型时，与基材表面的原子的结合数会直接影响到膜的密着强度。这个结合数，受分子的能量状态、基板的清洗状态等的影响。在与成膜有关的研究开发机工程管理中，可使用本设备进行密着强度的评价。

以往的划痕测试仪，摩擦膜表面造成破坏点时，依靠摩擦力的变化及音响信号等来评价密着强度。但是，膜厚在微米级以下的薄膜的破坏点很难检测出来。为解决这个问题，采用高感度的能够检测出薄膜破坏的MICRO SCRATCH法，测试纳米级别的薄膜的附着强度。最适合评价液晶显示屏的透明电极膜、光学薄膜、DLC、磁盘的保护膜等的附着强度。

超薄膜附着强度测试仪的特点

具有直线增加荷重的控制功能，在镜头等的曲面上也能做测试
可以进行以特定荷重来评价的特定负荷测试
基于信号的FFT分析功能，高感度进行剥离检测
测试部位的设定以及测试后的划伤观察等简单易行
测试不需要花费很多时间(1次测试约1～2分钟)
与小型硬度计等薄膜物性测试仪相比，能够在普通的操作台上测试

能进行JIS R-3255标准(以剥离为基板的薄膜附着性测试方法)的测试